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      產品詳情

      方塊電阻測試儀的特點

      日期:2022-11-29 22:35
      瀏覽次數:8
      摘要:
       
      方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜等同類物質的薄層電阻。
      方塊電阻測試儀大規模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數,使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
      方塊電阻測試儀的特點:
      1、采用大規模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩定,低功耗;
      2、以大屏幕LCD顯示讀數,直觀清晰;
      3、采用單個電池供電,帶電池欠壓指示;
      4、體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
      5、特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜;
      6、探頭帶抗靜電模塊。




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